Deben單絲桿拉伸壓縮及水平彎曲臺2kN & 5kN

2kN & 5kN單絲桿拉伸、壓縮及水平彎曲臺

2kN和5kN拉伸臺測試模塊為特殊設計，可以用SEM、光學顯微鏡、AFM或XRD系統實時觀察樣品的高應力區域。Windows 7.0/10軟件設置驅動器參數，并在計算機屏幕上實時顯示應力/應變曲線。從150N到5kN的測力測力傳感器覆蓋了大多數應用，位移速率從0.005mm/min到50mm/min。所有臺子都有用于測量伸長率的線性刻度和用于速度控制的光學編碼器。可選項包含3點和4點彎曲夾具，纖維夾具和顯微鏡安裝適配器。所有的模塊都由我們的微測試拉伸測試軟件控制，特殊的版本可以根據客戶的要求定制。

2kN拉伸臺

2kN拉伸臺采用了定制微型測量傳感器，范圍在660N到2kN之間。樣品水平安裝，被夾在一對夾具上，支撐在不銹鋼滑動軸承上。雙絲桿對稱地在相反的方向驅動夾具，保持樣品在視野的中心。2kN模塊非常適合與掃描電子顯微鏡、光學顯微鏡或原子力顯微鏡配套使用，并且很容易安裝在大多數樣品臺上。應用范圍從聚合物，薄膜，纖維和薄金屬樣品等。定制版本可獲得從-20°C到+160°C通過帕爾帖加熱和冷卻及擴展的行程

5kN拉伸臺

這個5kN拉伸臺非常類似于2kN拉伸臺，除了它的大小和最大載荷力。該5kN模塊可適用于較大的腔體SEMs、AFMs和光學顯微鏡。應用領域包括陶瓷、金屬和聚合物。定制版本可獲得從-20°C到+160°C通過帕爾帖加熱和冷卻及擴展的行程。

用于SEM的具有加熱和冷卻功能的2kN拉伸臺(新產品)

DEBEN近期開發出一種新的2kN拉伸臺，可選加熱到600°C加熱附件，專用于與掃描電鏡EBSD探測器配套使用。該拉伸臺有兩個樣品夾具，可在0°和70°進行樣品觀察，并可配備可選的加熱/冷卻夾具，溫度范圍可達600°C。

推薦應用：

掃描電子顯微鏡（SEM）、光學顯微鏡及原子力顯微鏡等

相關產品鏈接

2KN拉伸臺（用于SEM EBSD，可選加熱附件）

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