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荷蘭ASI出品的TPX3Cam是一款用于光學光子時間戳的快速光學相機。它基于一種新型硅像素傳感器，并結合了Timepix3 ASIC和讀出芯片技術，適用于電子、離子或單光子等需要時間分辨成像的各種應用。TPX3Cam可以很容易地集成在桌上型研究裝置中，也可以集成在同步加速器或自由電子激光環境中。TPX3Cam的應用包括飛行時間質譜中離子的空間和速度映射成像; 離子和電子的符合成像，以及其他時間分辨類型的成像光譜。增強版TPX3Cam可以是單光子敏感的。在這種配置下，相機與現成的圖像增強器結合使用。應用包括寬視場時間相關單光子計數(TCSPC)成像，磷光壽命成像和任何需要時間分辨單光子成像的應用。

ASI的Cheetah是一種適合于電子顯微鏡應用的混合像素探測器(TEM ED Detector Camera)。Cheetah卓越的靈敏度和速度為獲得電子衍射、成像及斷層掃描提供了前所未有的可能性。每個像素通過bump-bonds與集成在芯片上的讀出電子器件相連，芯片位于傳感器下方。每個像素的電子器件單獨處理來自該像素傳感器的信號。每個獨立像素對其相應區域中檢測到的事件進行計數和處理。常規閃爍體CCD探測器探測不到噪聲量級的微弱信號，而Cheetah可以獲得。與其它類型的直接探測器相機比較，Cheetah的動態范圍非常大，電子束靈敏度很高，常用于衍射實驗。Cheetah的高速特點使之成為觀察動態過程和捕捉快速衰減信號的理想工具。

雙絲桿工作臺的設計允許透射和反射照明兩種，可安裝在光學顯微鏡、X射線衍射系統或同步加速器上。

自上世紀八十年代成立以來，美國JC Nabity Lithography Systems公司一直致力于基于商品SEM、STEM或FIB的電子束光刻裝置的研制，其研發的納米圖形發生器系統（Nanometer Pattern Generation System納米圖形發生系統，簡稱NPGS，又稱電子束微影系統）技術在全球同類系統中屬于翹楚之作，世界各地越來越多的用戶包括大學、科研機構及政府實驗室在使用NPGS進行EBL研究工作.

用于SEM,FIB,TEM,XPS,ALD,CD-SEM,EBR,EBI,EUVL和其它高真空系統的遠程等離子清潔儀。遠程等離子源需安裝在要被清潔的真空腔室上，控制器向遠程離子源提供射頻能量。射頻電磁場能激發等離子體，分解輸入氣體而產生氧或氫的活性基，活性基會擴散到下游的真空腔室，并與其中的污染物發生化學反應，反應產物能輕易地被抽走。遠程等離子清潔儀可同時清潔真空系統和樣品！

Tergeo系列臺式全自動等離子清潔儀具有清潔、灰化、刻蝕等功能，可用來清潔納米級樣品，去除光刻膠，清潔晶圓和集成電路鍵合焊盤，進行煤和有機物的灰化，激活聚合物、金屬和陶瓷表面官能團，獲得表面親水性，提高鍵合強度和可印刷性，促進醫療器械生物相容性。可集成浸入式和遠程式兩種等離子源，既可清潔電鏡光闌和TEM樣品桿，也可清潔石墨烯、碳納米管、類金剛石碳和TEM載網多孔碳膜等脆弱的精細樣品。

ASI公司出品的?LynX系列探測器為混合像素區域探測器，55μm像素間距，適用范圍廣。在每個512×512像素(262K像素點)中，LynX探測器辨別或測量X射線能量的能力，為X射線探測、成像和斷層掃描等應用提供了前所未有的可能性。LynX傳感器（硅，砷化鎵，碲化鎘）被設計成一個像素陣列，并通過凸塊接合(bump-bonds球)連接到集成在傳感器下面的芯片的讀出電路，將傳感器的信號轉換為電信號。每一個像素點都能夠進行待測物體的計量、統計光子能量或計算出檢測到量子的時間。

M2N電子顯微鏡用品和耗材品種齊全，品質卓越，可靠實用；產品包括載網、支持膜、樣品臺、靶材、載玻片、標樣、鎢燈絲、導電膠膠帶、探針、工器具、存儲容器等等。

2kN & 5kN單絲桿拉伸、壓縮及水平彎曲臺 ? 2kN和5kN拉伸臺測試模塊為特殊設計，可以用SEM、光學顯微鏡、AFM或XRD系統實時觀察樣品的高應力區域。Windows 7.0/10軟件設置驅動器參數，并在計算機屏幕上實時顯示應力/應變曲線。從150N到5kN的測力測力傳感器覆蓋了大多數應用，位移速率從0.005mm/min到50mm/min。所有臺子都有用于測量伸長率的線性刻度和用于速度控制的光學編碼器。可選項包含3點和4點彎曲夾具，纖維夾具和顯微鏡安裝適配器。所有的模塊都由我們的微測試拉伸測試軟件控制，特殊的版本可以根據客戶的要求定制。 ? 2kN拉伸臺 2kN拉伸臺采用了定制微型測量傳感器，范圍在660N到2kN之間。樣品水平安裝，被夾在一對夾具上，支撐在不銹鋼滑動軸承上。雙絲桿對稱地在相反的方向驅動夾具，保持樣品在視野的中心。2kN模塊非常適合與掃描電子顯微鏡、光學顯微鏡或原子力顯微鏡配套使用，并且很容易安裝在大多數樣品臺上。應用范圍從聚合物，薄膜，纖維和薄金屬樣品等。定制版本可獲得從-20°C到+160°C通過帕爾帖加熱和冷卻及擴展的行程 ? 5kN拉伸臺 ? 這個5kN拉伸臺非常類似于2kN拉伸臺，除了它的大小和最大載荷力。該5kN模塊可適用于較大的腔體SEMs、AFMs和光學顯微鏡。應用領域包括陶瓷、金屬和聚合物。定制版本可獲得從-20°C到+160°C通過帕爾帖加熱和冷卻及擴展的行程。 ? 用于SEM的具有加熱和冷卻功能的2kN拉伸臺(新產品) ? DEBEN近期開發出一種新的2kN拉伸臺，可選加熱到600°C加熱附件，專用于與掃描電鏡EBSD探測器配套使用。該拉伸臺有兩個樣品夾具，可在0°和70°進行樣品觀察，并可配備可選的加熱/冷卻夾具，溫度范圍可達600°C。 ? 推薦應用： ? 掃描電子顯微鏡（SEM）、光學顯微鏡及原子力顯微鏡等 ? 相關產品鏈接 2KN拉伸臺（用于SEM EBSD，可選加熱附件） 200N壓縮和水平彎曲臺 300N & 2kN 3&4 點垂直彎曲臺（用于SEM）

通過選配外部附件如：EM-KLEEN遠程控制等離子源和/或TEM樣品桿適配器，多用途腔室可配置成不同的應用。EM-KLEEN遠程等離子體源可以采用空氣、氧氣或氫氣產生氧和氫自由基，用于樣品清潔和表面活化。如果腔室配備了TEM樣品桿適配器，則可接受和清潔來自Thermo Fisher、JEOL和Hitachi的共六個TEM樣品桿，然后它還可以用作樣品桿真空儲存站。當然，EM-KLEEN等離子源也可被取下并安裝到SEM、FIB或XPS等真空腔室上

Deben近期開發了一種新的2KN拉伸臺，可選擇加熱至600°C的加熱裝置，專門用于裝有EBSD探測器的掃描電鏡內。該臺有雙樣品夾具，允許樣品在0°和70°下觀察，并可配備溫度范圍高達600°C的可選的加熱/冷卻夾具。

CT5000原位測試臺用途廣泛，適應性強，重量小于6.0kg，適用于安裝在常見的中程μXCT系統，如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和GE?v|tome|x等